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El encuentro, que congregó a alumnos de pre y postgrado, académicos e investigadores del área, se enfocó en el conocimiento y aplicación del programa WinCSD para el análisis de la estructura cristalina de materiales.
Conocer con mayor profundidad la constitución de las estructuras cristalinas, en base a las técnicas de difracción de rayos X, además de profundizar el conocomiento en uno de los principales métodos en la caracterización de materiales, fue el propósito de la segunda Escuela de Cristalografía y Difracción de Rayos X, iniciativa liderada por el Dr. Raúl Cardoso-Gil del Departamento de Ingeniería Metalúrgica y de Materiales (DIMM) de la Universidad Técnica Federico Santa María.
Esta segunda edición, contó con la especial participación del profesor Yuri Grin, investigador del Instituto-Max-Planck para QuímicaFísica de Materiales de Dresden (Alemania), quien dictó los principales talleres realizados en este encuentro.
Sobre la Escuela, el académico del DIMM e investigador del Instituto- Max-Planck, el Dr. Raúl Cardoso-Gil, explicó que esta segunda edición profundizó en conocer características de la estructura cristalina, a través de un software especializado que permite determinar el ordenamiento de los átomos en el espacio.
Del mismo modo, el académico comparó las dos escuelas que se han desarrollado en la Casa de Estudios, indicando que, “hemos abarcado dos tópicos, que, si bien pertenecen a la misma disciplina, en lo referente a los programas que utilizamos y los temas abordados, tienen diferencias en cuanto a la información que se quiere obtener del análisis cristalográfico”.
“La primera versión, se orientó al análisis de materiales y sus propiedades, y en esta segunda Escuela, se abordaron temas orientados a conocer la estructura cristalina en sí, es decir, el orden de los átomos en el espacio”, agregó.
En tanto, el también investigador del Instituto alemán, Prof. Yuri Grin, comentó que los talleres abordaron los principios relacionados con la caracterización de los materiales, “siendo ésta un área muy importante de la investigación y la industria hoy en día, porque la calidad de los materiales puede ser probada sólo por caracterizaciones especiales. Lo que hacemos aquí es aprender a utilizar técnicas de difracción de rayos X para llevar a cabo dichas caracterizaciones”.
Asimismo, el investigador destacó la participación de los asistentes a la Escuela, e indicó que, “están muy motivados, a pesar de que estas técnicas son bastante complejas. Podemos ver que están tratando de quedarse con la mayor cantidad de información sobre lo que estamos haciendo aquí, y creo que, en combinación con el trabajo futuro, esto tendrá un efecto muy positivo en ellos”.
Cabe destacar que los organizadores pretenden que este encuentro continúe realizándose anualmente con el objetivo de generar una red de contactos afines a este campo científico, y con ello divulgar el quehacer científico y los estudios avanzados en relación a la caracterización de la estructura de los materiales cristalinos y los diversos programas para su análisis mediante difracción de rayos X.
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