Académico USM: primer chileno en dirigir subcomité del mayor centro de información de difracción de rayos X del mundo

Marzo 27, 2024

Dr. Claudio Aguilar asumió como director del área de Metales y Aleaciones del ICDD (International Centre for Diffraction Data), cuya principal misión es preservar y entregar datos de calidad a la comunidad mundial para el desarrollo tecnológico e investigación científica.

Por primera vez un chileno se convierte en director de uno de los subcomités del Centro Internacional de Datos de Difracción (ICDD), entidad que lidera en el mundo esta materia y cuya sede se encuentra en Filadelfia, Estados Unidos.

Se trata del académico del Magíster en ciencias de a Ingeniería Metalúrgica de la USM, Dr. Claudio Aguilar, quien recibió la invitación de parte del director ejecutivo del ICDD, Tom Blanton, en virtud de su trayectoria profesional y científica, sus investigaciones y publicaciones y – según señaló el propio investigador, debido al trabajo científico del Laboratorio de Difracción de Rayos X, el que fue creado el 2015 por él con apoyo del proyecto FONDEQUIP EQM140095.

El centro de difracción de rayos X cuenta con la participación de más de 300 científicos de todo el mundo, tanto del ámbito educacional, gubernamental e industrial y se estructura en una junta directiva, comités y subcomités.

El Dr. Claudio Aguilar fue nombrado director del comité de Metales y Aleaciones y su objetivo es velar que los datos de los patrones de la difracción de polvo estén en orden y actualizados, asegurando que la información esté disponible para investigaciones y avances científicos y tecnológicos de todo el mundo.

En este sentido, el académico de la USM indicó que “parte de mi trabajo es organizar el comité con sus miembros que llegan a cerca de 50, efectuar reuniones periódicas, verificar que todos los datos se encuentren actualizados, enfocándose en mantener los estándares de calidad y en ampliar la cobertura y utilidad de esta información”.

Encuentro en Filadelfia

Oficialmente, el Dr. Claudio Aguilar fue nombrado como director del comité en la reunión anual del Centro Internacional de Datos de Difracción, la que se efectuó entre 11 y 15 de marzo de este año en Filadelfia, ciudad hasta donde viajó el académico para participar del encuentro.

Cabe señalar que actualmente el académico está realizando un postdoctado en el desarrollo de nuevos materiales por medio de impresión 3D de desechos mineros y aleaciones de alta entropía en un marco de economía circular. Al consultarle al académico, cuáles son sus desafíos dentro de su nuevo nombramiento, indicó que “es una gran responsabilidad por cuanto en el ICDD no sólo represento a Chile sino que también a la Universidad Técnica Federico Santa María, por lo que mi labor irá de la mano del compromiso y la rigurosidad en todos los procesos que deben llevar a cabo”.

Huella digital

Para entender de manera sencilla de qué trata la difracción de rayos X, el Dr. Aguilar explicó que a través del proceso se crea una caracterización de materiales, es decir, “se logra una especie de huella digital de los metales y aleaciones, esta información sirve para desarrollar nuevos materiales”.

En definitiva, es una técnica de caracterización básica de todo tipo de material con estructura cristalina como metales, minerales, polímeros, catalizadores, plásticos, productos farmacéuticos, cerámicas, por nombrar algunos. Es un método no destructivo, permitiendo la recuperación del material estudiado.

Compartir en:

Facebook
Twitter
LinkedIn
WhatsApp
Email
Imprimir

Noticias Relacionadas

Doctorado en Ciencias Físicas USM – PUCV inaugura año académico 2024

Con una charla de la reconocida Dra. Dora Altbir, Premio Nacional de Ciencias Exactas (2019), se dio inicio a las actividades académicas del programa.

Fecha de publicación: